一种用于单层微波电容器容损测试的夹具

专利申请权、专利权的转移

摘要

一种用于单层微波电容器容损测试的夹具，包括底座、测试探针、支架和驱动机构，底座设置有用于放置单层微波电容器的放置槽，测试探针与放置槽相对可在第一位置与第二位置之间升降移动地设置在支架上，驱动机构连接并驱动测试探针升降移动，所述放置槽的底面设置有铜排，铜排连接有线缆，当测试探针在第一位置时，测试探针位于放置槽的上方，当测试探针在第二位置时，测试探针下降至放置槽中，单层微波电容器夹紧在铜排与测试探针之间，夹具整体结构简单，操作简单、难度低，提高了测试效率，而且单层微波电容器与铜排和测试探针均具有良好的接触性，大大提高了测试的准确性。

基本信息

专利标题：

一种用于单层微波电容器容损测试的夹具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920976807.7

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-26

授权号：

CN210376522U

授权日：

2020-04-21

发明人：

林泽清曾小力潘甲东

申请人：

福建毫米电子有限公司

申请人地址：

福建省泉州市鲤城区常泰街道泰新街58号

代理机构：

泉州君典专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

傅家强

优先权：

CN201920976807.7

主分类号：

G01R27/26

IPC分类号：

G01R27/26 G01R31/00 G01R1/04