一种均流测试装置
授权
摘要
本申请公开了一种均流测试装置，该测试装置主要包括多个阻值相等的精密电阻和一个多路数据采集器，且任一精密电阻与一电感相匹配；任一精密电阻设置于电感的输出端，且精密电阻与电感串联连接，多路数据采集器中任意一路的两条测量线分别与任一精密电阻的两端连接通过。通过本装置，能够简化测试操作，大大提高测试效率，并有利于提高测试结果的可靠性和准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种均流测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920979792.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-27
授权号 ：
CN210294436U
授权日 ：
2020-04-10
发明人 ：
石德礼
申请人 ：
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 ：
济南诚智商标专利事务所有限公司
代理人 ：
王汝银
优先权 ：
CN201920979792.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R19/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-04-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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