一种球罩形光学元件等厚参数的测量装置
授权
摘要
一种球罩形光学元件等厚参数的测量装置，包括表座、底板、活动表杆、千分表、调节卡条、紧固螺钉、卡槽螺杆和旋转螺柱；所述的千分表连接在活动表杆上，活动表杆固定在表座上，表座吸附固定在底板一端。本实用新型用于球罩形光学元件等厚参数的快速测量，精度较高，且操作简单，效率较高，适合车间现场人工操作，可为一线工人提供进一步加工的数据参考。
基本信息
专利标题 ：
一种球罩形光学元件等厚参数的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920993510.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-28
授权号 ：
CN209945208U
授权日 ：
2020-01-14
发明人 ：
顿爱欢嵇文超孙政王东东朱杰张宝安吴福林徐学科
申请人 ：
中国科学院上海光学精密机械研究所;上海恒益光学精密机械有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区清河路390号
代理机构 ：
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
张宁展
优先权 ：
CN201920993510.1
主分类号 ：
G01B5/06
IPC分类号 ：
G01B5/06 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B5/06
用于计量厚度
法律状态
2020-01-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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