一种MicroLED测试治具及MicroLED测试设备
授权
摘要
本实用新型涉及半导体产品检测技术领域，特别涉及一种MicroLED测试治具及MicroLED测试设备，MicroLED测试治具包括治具载板、PCB板和产品放置板；治具载板的一侧设置有凹槽，所述凹槽用于放置所述PCB板，所述产品放置板设置在所述治具载板和所述PCB板上；所述产品放置板的一侧设置有产品放置槽，另一侧设置有真空吸附模块，所述产品放置槽内设置有若干与产品进行导通连接的探针，所述探针还与所述PCB板电性连接。本实用新型提供的MicroLED测试治具，能够应用在MicroLED测试设备中，从而实现MicroLED的自动化测试，不仅能够提高生产效率，还能降低PCB板的损坏率，并提高产品测试的准确度，具有重要的实际生产应用价值。
基本信息
专利标题 ：
一种MicroLED测试治具及MicroLED测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921038540.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-05
授权号 ：
CN210487943U
授权日 ：
2020-05-08
发明人 ：
郑伶俐林志阳
申请人 ：
厦门特仪科技有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市同安区美溪道思明工业园79号4楼之一
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921038540.3
主分类号 ：
G01R31/44
IPC分类号 ：
G01R31/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/44
•测试灯
法律状态
2020-05-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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