本申请提供了一种导电片及测试治具，其中，导电片包括基板和多个导电缓冲部。多个导电缓冲部设置在基板上，且多个导电缓冲部彼此间隔绝缘设置，导电缓冲部贯穿基板。导电缓冲部用于与测试治具的第一导电端子连接。本申请提供的技术方案，导电缓冲部能够将治具的第一导电端子与待测产品电连接，另外，导电缓冲部具有缓冲作用，避免了第一导电端子与待测产品直接接触，降低了第一导电端子在组装过程中所受到的待测产品给予的冲击力，从而降低了第一导电端子被待测产品压坏的概率，进而延长了测试治具的使用寿命，降低了测试治具的成本，增加了产品的市场竞争力。