一种基于DSP的红外热成像缺陷无损检测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种基于DSP的红外热成像缺陷无损检测装置,其特征在于,所述装置包括:蓄电池(101)、DC12V供电盒(102)、蓄电池管理系统(103)、逆变器(104)、无线路由(105)、红外热像仪(106)、DSP微型处理器(107)、激励源(108)、云台(109)、LCD显示屏(110)、激光测距仪(111)、计算机(112)、ARM微型处理器(113)。该装置满足了对复合型材料缺陷检测要求,实现了对复合型材料的非接触式检测,检测速度快、结果准确,极大地提高了检测效率。本实用新型所提供的无损检测装置,可广泛用于红外无损检测领域,具有广阔的应用前景。

基本信息
专利标题 :
一种基于DSP的红外热成像缺陷无损检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921052237.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-01
授权号 :
CN211877838U
授权日 :
2020-11-06
发明人 :
潘炼袁正启
申请人 :
武汉科技大学
申请人地址 :
湖北省武汉市青山区和平大道947号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921052237.9
主分类号 :
G01N25/72
IPC分类号 :
G01N25/72  G05B19/042  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/72
测试缺陷的存在
法律状态
2022-06-14 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 25/72
申请日 : 20190701
授权公告日 : 20201106
终止日期 : 20210701
2020-11-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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