基站设备的天线性能及OTA指标的测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种基站设备的天线性能及OTA指标的测试系统，其包括计算机、网络分析仪、一体化无线设备测试仪器、频谱分析仪、矢量信号发生器、HUB以及天线暗室，在天线暗室内布置有待测基站设备及暗室环境天线，待测基站设备具有设备天线；计算机与HUB通信连接，HUB还与各个测试仪器和待测基站设备通信连接，矢量信号发生器的输出端经由射频线连接至暗室环境天线。根据本实用新型的基站设备的天线性能及OTA指标的测试系统，可满足基站设备射频的OTA性能指标测试及天线性能测试的需要，可验证基站设备的空口射频指标，并能够显著降低测试成本过高。
基本信息
专利标题 ：
基站设备的天线性能及OTA指标的测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921096733.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-11
授权号 ：
CN210604799U
授权日 ：
2020-05-22
发明人 ：
吴福健
申请人 ：
上海剑桥科技股份有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区陈行公路2388号8幢501室
代理机构 ：
上海弼兴律师事务所
代理人 ：
胡美强
优先权 ：
CN201921096733.4
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2020-05-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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