一种膜电极缺陷快速筛拣设备
授权
摘要
本实用新型提供了一种膜电极缺陷快速筛拣设备，包括设置有面光源的样品放置平台，设置在样品放置平台上方的检测器，以及用于驱动检测器沿X、Y、Z三个方向移动的三轴移动机构；所述检测器包括朝下设置的激光测距仪和朝下设置的图像采集装置，该检测器与上位机通信连接。该设备能够对膜电极缺陷位置进行定位和图像采集，以便后续进行分析。
基本信息
专利标题 ：
一种膜电极缺陷快速筛拣设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921120473.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-17
授权号 ：
CN210572003U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
赵玉彬陈丽丽
申请人 ：
佛山市清极能源科技有限公司
申请人地址 ：
广东省佛山市南海区狮山镇力合科技76栋107室
代理机构 ：
佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈志超
优先权 ：
CN201921120473.X
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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