一种半导体激光器功率测试与光斑识别装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体激光器功率测试与光斑识别装置，该装置包括底座支架，底座支架顶部设有第一横梁，底座支架中部设有第二横梁，第一横梁一端固定安装有积分球，积分球底部设有两个半透半反镜片支架，半透半反镜片两端分别与两半透半反镜片支架固定连接，底座支架上固定安装有激光器插座，第二横梁一端固定安装有半透屏幕，另一端固定安装有CCD相机，积分球顶部设有测试探头；该装置可以实现一次上料，同时完成激光器功率测试与光斑识别测试，大大提升了测试效率；光斑识别测试中通过电脑控制终端对光斑大小、形状进行量化分析、判定，排除人为判定的差异，提高了产品测试的一致性。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体激光器功率测试与光斑识别装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921144661.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-19
授权号 ：
CN210198679U
授权日 ：
2020-03-27
发明人 ：
邓文祥赵克宁刘琦王永红
申请人 ：
潍坊华光光电子有限公司
申请人地址 ：
山东省潍坊市高新区新城街道玉清社区金马路9号管芯净化厂房
代理机构 ：
北京华际知识产权代理有限公司
代理人 ：
张文杰
优先权 ：
CN201921144661.6
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01M11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-03-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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