一种半导体激光器的光斑发散角测试系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体激光器的光斑发散角测试系统及其测试方法，属于激光器领域，测试系统包括承载件，其用于承载半导体激光器，半导体激光器的输出端连接有光纤；调节装置，其上设置有一夹持器，所述夹持器用于夹紧或松开所述光纤，所述调节装置能够驱动所述夹持器移动；第一升降装置，其用于驱动所述调节装置的升降动作；光功率测试组件，其上设置有光阑，光阑与所述光纤同心设置以使其能够接收全光斑发散角下的光斑能量；第二升降装置，其用于驱动所述光功率测试组件的升降动作；还包括光纤位置标定装置和与其连接的显示屏，所述光纤位置标定装置用于获取光纤的位置信息，所述显示屏用于显示所述光纤的位置信息，测试更加快速精准。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体激光器的光斑发散角测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021879859.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-31
授权号 ：
CN212391198U
授权日 ：
2021-01-22
发明人 ：
侯长春王兴辉张文广
申请人 ：
中久光电产业有限公司
申请人地址 ：
江西省南昌市临空经济区儒乐湖大街955号临瑞青年公寓1号楼5楼517室
代理机构 ：
南昌贤达专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
金一娴
优先权 ：
CN202021879859.1
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00 G01J1/42 H01S5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2021-01-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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