一种辐射探测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种辐射探测装置，该辐射探测装置包括探测器以及外壳，外壳内具有一容置空间，探测器容置于容置空间内，外壳的厚度不小于对应射线的半值层厚度的五倍，半值层厚度为将射线能量衰减为初始值一半的物质的厚度，外壳上设置有自外壳外部延伸至容置空间内的通孔。本实用新型仅需将探测器和外壳放入废液中即可进行测量，无需改造放射性废液池，无需多次采样测量，操作方便，提高了测量效率，降低了成本；同时通过外壳隔绝了外部射线对探测器的影响，最大限度的提高了测量数据的精准度。
基本信息
专利标题 ：
一种辐射探测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921262604.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-06
授权号 ：
CN210666033U
授权日 ：
2020-06-02
发明人 ：
姜浩朱玉珍朱李强王侃
申请人 ：
苏州瑞派宁科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区锦峰路8号17栋305室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921262604.8
主分类号 ：
G01T1/16
IPC分类号 ：
G01T1/16 G01T7/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
法律状态
2020-06-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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