探针、检查夹具和检查单元
授权
摘要

本实用新型提供探针、检查夹具和检查单元,该检查夹具具有该探针,该检查单元具有该检查夹具,能够与大小不同的多个接触对象物更加可靠地接触。探针具有:板状的主体部;第1触点部,其设置于主体部的第1方向上的一端;以及一对第2触点部,它们设置于主体部的第1方向上的一端,与第1触点部隔开间隔地分别配置于第1触点部的第2方向上的两侧,并延伸至比第1触点部更远离主体部的位置。各第2触点部具有引导面,该引导面在第2方向上相互地相对配置,朝向第1触点部引导沿着第1方向与第1触点部接近的接触对象物。

基本信息
专利标题 :
探针、检查夹具和检查单元
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921274244.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-07
授权号 :
CN210720509U
授权日 :
2020-06-09
发明人 :
笹野直哉寺西宏真酒井贵浩
申请人 :
欧姆龙株式会社
申请人地址 :
日本国京都府京都市
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
朱丽娟
优先权 :
CN201921274244.3
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  G01R1/073  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2020-06-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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