一种几何量测量校准的标准装置
授权
摘要
本实用新型涉及尺寸测量技术领域，具体是一种几何量测量校准的标准装置，包括：底座和至少一个标准球，所述底座包括第一固定板、第二固定板、第三固定板和第四固定板，所述第一固定板、所述第二固定板、所述第三固定板和所述第四固定板构成梯形结构，所述梯形结构内部设有中空空间；所述第一固定板、所述第二固定板和所述第三固定板均设有至少一个凸台，所述凸台与所述标准球一一对应，每个所述凸台上设有盲孔，所述标准球设置在所述盲孔内；本实用新型能够采用中空梯形结构，使第一固定板第二固定板、第三固定板形成空间上的错落和高度差，提高成像效果和校准装置的校准的稳定性，统计不同尺寸几何量测量误差，适用性广泛。
基本信息
专利标题 ：
一种几何量测量校准的标准装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921297941.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-12
授权号 ：
CN210198334U
授权日 ：
2020-03-27
发明人 ：
刘娟黄红平王云祥吴建平
申请人 ：
苏州市计量测试院
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区文曲路69号
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
郝传鑫
优先权 ：
CN201921297941.0
主分类号 ：
G01B15/00
IPC分类号 ：
G01B15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
法律状态
2020-03-27 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
