一种光学性能分析检测光路结构

授权

摘要

本实用新型提供一种光学性能分析检测光路结构，包括第一光纤、第一准直透镜、工作面可以转动的闪耀光栅、第二准直透镜、第二光纤和光电探测器；第一光纤连接在第一准直透镜的入射端，闪耀光栅设置在第一准直透镜的出射光路径上，第二准直透镜设置在闪耀光栅的反射光路径上，第二光纤连接在第二准直透镜的出射端，光电探测器的光敏探头设置在第二光纤的出光路径上。本实用新型提供的光学性能分析检测光路结构，利用闪耀光栅配合其前后设置的第一准直透镜和第二准直透镜，组成简单的光路，光路易于组建，通过转动闪耀光栅的入射角，达到探测不同波长对应的光功率的目的。

基本信息

专利标题：

一种光学性能分析检测光路结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921330070.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-15

授权号：

CN210375631U

授权日：

2020-04-21

发明人：

赵冰张小翠

申请人：

中山市华思光电科技发展有限公司

申请人地址：

广东省中山市东区长江北路328号骏贤居E栋410室

代理机构：

广东高端专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

鲍璐璐

优先权：

CN201921330070.8

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02