一种光学性能检测光路

授权

摘要

本实用新型提供一种光学性能检测光路，包括入射端连接有第一光纤的第一准直透镜、用于将第一准直透镜出射的自然光光束分开为P光光束和S光光束的第一晶体、设置在P光光束和S光光束的下游光路上的带通滤光器、设置在带通滤光器的透射光路径上的第二晶体、设在第二晶体的出射光下游路径上且出射端连接有第二光纤的第二准直透镜、用于检测第二光纤的出射光的光电探测器、第一半波片、第二半波片。本实用新型提供的光学性能检测光路，利用两个双折射晶体、一个带通滤光器和两个半波片来实现低损耗传播的目的，能够提高检测光路的检测精度且能够通过转动带通滤光器达到检测不同波长对应的光功率的目的。

基本信息

专利标题：

一种光学性能检测光路

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921330122.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-15

授权号：

CN210375632U

授权日：

2020-04-21

发明人：

赵冰张小翠

申请人：

中山市华思光电科技发展有限公司

申请人地址：

广东省中山市东区长江北路328号骏贤居E栋410室

代理机构：

广东高端专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

鲍璐璐

优先权：

CN201921330122.1

主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

G01M11/02