用影象云纹检测光学元件性能的方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种用影象云纹法检测光学元件性能的方法。该方法采用了投影云纹原理，将被测物体放入投影云纹光路中，若有光学畸变就会引起云纹栅线的偏移。因此显示屏上就会出现云纹的变化，达到检测的目的。本发明可对玻璃、有机玻璃制品如眼镜、防毒面具镜片、平板玻璃、汽车后视镜等进行全场直观的检查鉴定、与现行的逐点检查方法相比具有迅速、不遗漏、精度高等的优点，按本发明原理可制造各种仪器检测光学元件的畸变。
基本信息
专利标题 ：
用影象云纹检测光学元件性能的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85100065A
申请号 ：
CN85100065.7
公开（公告）日 ：
1986-08-06
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN1008304B
授权日 ：
1990-06-06
发明人 ：
叶绍英崔光江郑忠良
申请人 ：
清华大学;中国人民解放军57605部队
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
章瑞溥
优先权 ：
CN85100065.7
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
1994-02-09 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-03-06 ：
授权
1990-06-06 ：
审定
1987-02-25 ：
发明专利公报更正
更正 卷 : 2 号 : 12 页码 : 47 更正项目 : 无 误 : 叶绍英 正 : 叶绍英|崔光江|郑忠良
1986-08-06 ：
公开
1986-06-10 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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