一种五轴硅盘缺陷宏观检测设备
授权
摘要
本实用新型涉及检测设备技术领域，尤其为一种五轴硅盘缺陷宏观检测设备，包括支撑板，所述支撑板底部的两侧均焊接有支撑腿，所述支撑板的顶部设有检测台，所述检测台的顶部栓接有限位圈，所述支撑板的底部设有用于调节检测台角度的动力结构，所述检测台的内部设有若干个用于顶起硅盘的顶起结构，所述检测台的顶部设有用于检测硅盘的检测结构，所述检测结构的左侧转动连接L型支撑杆；本实用新型通过采用动力结构来对检测台的位置进行调节，从而使五轴硅盘的位置进行调节，方便其进行检测，接着通过顶起结构来对五轴硅盘进行顶起，方便五轴硅盘进行上下料作业，使五轴硅盘减少因上下料而出现磨损的情况。
基本信息
专利标题 ：
一种五轴硅盘缺陷宏观检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921364416.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-21
授权号 ：
CN210834106U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
高志远吴金辉潘伍白晓青王瑞锋张刊
申请人 ：
上海诺银机电科技有限公司
申请人地址 ：
上海市青浦区香大东路1318号2、3、4幢
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921364416.6
主分类号 ：
G01M13/00
IPC分类号 ：
G01M13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M13/00
机械部件的测试
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
