芯片沟道搜索定位装置
授权
摘要
本实用新型提供一种芯片沟道搜索定位装置，包括激光发射源，用于发射激光至芯片上；激光强度检测部件，与所述激光发射源相对设置，以接收并检测所述激光发射源发射的激光经过所述芯片后的激光强度；芯片承载部件，处于所述激光发射源与所述激光强度检测部件之间的区域，并用于承载所述芯片，且所述芯片承载部件能够相对所述激光发射源运动；运算控制部件，与所述激光强度检测部件通讯连接，用于接收所述激光强度检测部件检测到的信号并进行运算获取所述芯片的沟道的位置。本实用新型的一种芯片沟道搜索定位装置，能够通过透过芯片的激光强度的变化搜索定位芯片的沟道，数据量小且算法简单，具有制造成本低、检测速度快的特点。
基本信息
专利标题 ：
芯片沟道搜索定位装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921456749.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-04
授权号 ：
CN210441819U
授权日 ：
2020-05-01
发明人 ：
苏世圣程昕杜晓纯刘晓彬白宇郭永
申请人 ：
新羿制造科技（北京）有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区科技园区超前路甲1号8号楼101室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921456749.1
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2020-05-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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