一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置
授权
摘要
一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。通过红外光谱仪进行光谱分析的薄膜类化学物质，需要研究各种聚合物在温度逐渐升高时同时受到拉伸力作用的过程中的微观结构变化的情况，现有的红外光谱仪未配备这种测量装置。一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。其组成包括：支撑外框（1），所述的支撑外框（1）外形尺寸是与红外光谱仪样品仓的可用空间相对应，所述的支撑外框（1）与左试样夹具（3）、右试样夹具（4）固定，所述的左试样夹具(3)和右试样夹具（4）与被测薄膜试样(5)固定，所述的被测薄膜试样(5)因穿过加热筒(6）内部而被加热到所需要的温度，所述的加热筒（6）与温度传感器装置（2）连接，所述的被测材料加热部分（5）与所述的加热筒装置（2）内滑动。本实用新型用于材料科学。
基本信息
专利标题 ：
一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921474079.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-06
授权号 ：
CN211528207U
授权日 ：
2020-09-18
发明人 ：
李子帙赵玉华徐志乐
申请人 ：
哈尔滨理工大学
申请人地址 ：
黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921474079.6
主分类号 ：
G01N21/3563
IPC分类号 ：
G01N21/3563 G01N21/01 G01N21/03
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3563
用于分析固体，及其样品制备
法律状态
2020-09-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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