一种可进行自清洁的电子分析天平
授权
摘要
本实用新型公开了一种可进行自清洁的电子分析天平，包括测量底座，测量底座上表面中间处固定安装测量台，测量底座上表面固定安装有支撑杆，支撑杆顶部固定安装玻璃盖板，支撑杆外侧壁固定安装玻璃板，支撑杆内侧壁焊接有固定杆，固定杆底部开设有第一凹槽，第一凹槽内壁套接螺杆，螺杆左端转动安装电机，侧壁固定安装底座，底座侧壁焊接支撑杆，第一凹槽内壁套接连接杆，连接杆侧壁开设螺纹孔，连接杆底端左右侧壁焊接固定板，固定板上表面固定安装喷枪，固定板侧壁右侧壁焊接纵向清洁装置，固定板右端底部固定安装加热棒，实现了自我清洁，除去测量部位灰尘的目的。
基本信息
专利标题 ：
一种可进行自清洁的电子分析天平
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921501063.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-10
授权号 ：
CN210221273U
授权日 ：
2020-03-31
发明人 ：
丁杭英
申请人 ：
江苏中泰检测检验有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市江阴市滨江西路8号3号楼413室
代理机构 ：
深圳市创富知识产权代理有限公司
代理人 ：
曾敬
优先权 ：
CN201921501063.X
主分类号 ：
G01G23/00
IPC分类号 ：
G01G23/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01G
称量
G01G23/00
称量仪器的辅助装置
法律状态
2020-03-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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