一种芯块几何尺寸及密度自动测量系统
授权
摘要

本实用新型涉及一种芯块几何尺寸及密度自动测量系统,该系统包括上下料机构、测量平台和工控机;上下料机构包括上料盘、机械手和下料盘;测量平台设置有尺寸测量模块、称重模块和粗糙度测量模块;尺寸测量模块包括工业相机和远心镜头,远心镜头设置在工业相机底端,朝向芯块;工业相机拍摄芯块图像,并将芯块图像传输至工控机已确定芯块的几何尺寸;几何尺寸包括直径、高度、垂直度和倒角宽度、高度;称重模块和粗糙度测量模块分别检测芯块的重量和粗糙度,并将检测结果分别传输至工控机;工控机根据几何尺寸和重量计算获得芯块密度。本实用新型提高了芯块几何尺寸的检测精度,并同时检测了芯块表面的粗糙度,提高了检测效率。

基本信息
专利标题 :
一种芯块几何尺寸及密度自动测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921703544.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-10-12
授权号 :
CN210719029U
授权日 :
2020-06-09
发明人 :
谭耘俞迪谢强宋文珑徐波尤亚飞叶齐马海涛骆建永黎晓李强魏晓东王亚鹏蔡文超
申请人 :
中核建中核燃料元件有限公司;北京大恒图像视觉有限公司
申请人地址 :
四川省宜宾市马鸣溪
代理机构 :
北京律谱知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄云铎
优先权 :
CN201921703544.9
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  G01B11/06  G01B11/08  G01B11/26  G01B21/30  G01N9/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2020-06-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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