本实用新型属于IC封装终段测试领域，尤其为一种IC封装终段测试平台，包括检测箱，所述检测箱的前端设置有控制板，所述控制板的一侧设置有数据处理器，所述检测箱的前端位于控制板的下方设置有箱门，所述箱门的前端设置有握把，所述握把的内侧连接有按钮，所述箱门的内侧设置有固定轴承，所述检测箱的一端连接有卡槽，所述通电柱的两端均设置有连接电路，所述连接电路的一端连接有电源，所述连接电路的另一端连接有电磁器，所述电磁器的下端连接有连接件，所述连接件的内部设置有磁块。本实用新型，解决了传统的IC封装检测平台，摆放桌支撑结构不够灵活，拆装不便的问题，同时给出一种新的IC封装检测平台仓门打开方式，延迟设备使用寿命。