一种密度天平
授权
摘要
本实用新型涉及实验器材技术领域，尤其为一种密度天平，包括密度天平主体，所述密度天平主体的下侧设置有水平调节脚，所述密度天平主体的基面中间处设置有称重托盘，所述密度天平主体的基面前端中间处设置有水准仪，所述密度天平主体的正面设置有控制面板，所述称重托盘的上侧设置有测量架，所述测量架的下侧中间处设置有接触圆盘，所述测量架的上侧中间处设置有安装槽，所述密度天平主体的上侧并且贯穿测量架设置有承载板，所述测量架通过安装槽安装有测量组件，所述连接柱的下侧通过连接拉杆与下侧测量盘连接，通过密度天平主体能够对物块的密度进行测量，测量方式简单方便，并且密度测量的精度较高，具有较高的实用性。
基本信息
专利标题 ：
一种密度天平
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921841344.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-30
授权号 ：
CN210982117U
授权日 ：
2020-07-10
发明人 ：
刘炜
申请人 ：
南京伯尼塔科学仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁区汤山工业园作厂路7号
代理机构 ：
杭州五洲普华专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
丁少华
优先权 ：
CN201921841344.X
主分类号 ：
G01N9/08
IPC分类号 ：
G01N9/08 G01G19/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N9/00
测试材料的密度或比重；通过测定密度或比重以分析材料
G01N9/08
通过在空气和液体中称量测量固体材料的浮力
法律状态
2020-07-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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