一种玻璃基板检测用密度天平
授权
摘要

本实用新型公开了一种玻璃基板检测用密度天平,包括天平本体,放置在天平本体台面上的测量支架,放置在天平本体台面上且穿过测量支架架体的四脚支撑板,在四脚支撑板上放置水槽,称量支架安装在测量支架顶部,称量盘安装在称量支架顶部,温度传感器安装在水槽中,温度传感器连接数据处理单元,其中天平本体、四脚支撑板、称量盘上均设置有水平显示气泡仪。本实用新型结构简单实用、操作方便、适用范围广、效率高,有效解决天平平衡、纯水密度温度补偿等对密度测试数据影响问题,有助于研究玻璃基板在成分或者工艺微调整情况下对密度的影响问题,进而有助于指导工艺生产。

基本信息
专利标题 :
一种玻璃基板检测用密度天平
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922010399.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-20
授权号 :
CN211263076U
授权日 :
2020-08-14
发明人 :
舒众众刘文瑞张晓东宋长刚宫传艳杨淑妍
申请人 :
蚌埠中光电科技有限公司
申请人地址 :
安徽省蚌埠市龙子湖区石屋路199号
代理机构 :
安徽省蚌埠博源专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
杨晋弘
优先权 :
CN201922010399.2
主分类号 :
G01N9/08
IPC分类号 :
G01N9/08  G01G19/62  G01G23/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N9/00
测试材料的密度或比重;通过测定密度或比重以分析材料
G01N9/08
通过在空气和液体中称量测量固体材料的浮力
法律状态
2020-08-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332