双天平互通容器密度测量方法及装置
专利申请的视为撤回
摘要
一种双天平互通容器密度测量方法及装置，其特征是测量装置由侧壁用软导管连通的两个容器和有两个称量台并可以分别称量的电子分析天平、电子秤等组成，测量过程象称量一样简便，可准确测量固体、液体材料的密度，也可进行体积等测量或作为两个称量天平使用。
基本信息
专利标题 ：
双天平互通容器密度测量方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1095160A
申请号 ：
CN93111815.8
公开（公告）日 ：
1994-11-16
申请日 ：
1993-05-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈全明
申请人 ：
陈全明
申请人地址 ：
610003四川省成都市529信箱57分箱
代理机构 ：
绵阳市专利事务所
代理人 ：
杨荫茂
优先权 ：
CN93111815.8
主分类号 ：
G01N9/08
IPC分类号 ：
G01N9/08
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N9/00
测试材料的密度或比重；通过测定密度或比重以分析材料
G01N9/08
通过在空气和液体中称量测量固体材料的浮力
法律状态
2001-02-07 ：
专利申请的视为撤回
1995-03-29 ：
实质审查请求的生效
1994-11-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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