实验室用分析天平

授权

摘要

本实用新型提供了一种实验室用分析天平，该天平包括天平主体。在天平主体的上表面靠前的位置设置有显示控制器，在天平主体上表面且位于显示控制器的上方设置有水平仪。并在天平主体的上表面设置有秤盘和防尘罩，防尘罩活动罩设于秤盘外，于防尘罩的中部开设有供称量漏斗安置的穿孔。另外，在防尘罩的顶部滑动设置有提手，提手可构成穿孔的封闭。在天平主体四角螺接有贯穿天平主体的支撑杆，支撑杆可构成对天平主体的支撑。本实用新型的实验室用分析天平，有助于提高秤盘称重物体的精确度，避免了灰尘对秤盘造成污染。

基本信息

专利标题：

实验室用分析天平

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022316388.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-10-16

授权号：

CN213397293U

授权日：

2021-06-08

发明人：

朱虹

申请人：

河北化工医药职业技术学院

申请人地址：

河北省石家庄市裕华区方兴路88号

代理机构：

石家庄旭昌知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

雷莹

优先权：

CN202022316388.X

主分类号：

G01G1/24

IPC分类号：

G01G1/24