一种机械分析天平
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摘要

本实用新型涉及一种机械分析天平,包括底座和设置在所述底座的承载面上的天平主体,所述底座设有防风罩,所述天平主体位于所述防风罩的内部,所述防风罩的一侧设有侧门,所述底座设有滑轨,所述防风罩包括第一立柱和第二立柱,所述第一立柱与所述侧门的侧边抵接,所述第二立柱开设有条形口,所述侧门设有安装板,所述安装板上设有锁扣,所述锁扣的中部和所述安装板之间设有转轴,所述锁扣在所述转轴的连接下相对所述安装板摆动,所述锁扣的一端设有卡钩,所述卡钩与所述安装板之间连接有弹性件,所述第一立柱设有与所述卡钩扣接的卡块;本实用新型具有锁紧防风罩的侧门,减小外界气流对称量的影响的效果。

基本信息
专利标题 :
一种机械分析天平
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921942907.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-07
授权号 :
CN210664744U
授权日 :
2020-06-02
发明人 :
徐承敬彭秋莉吴君强
申请人 :
上海洁乐特防锈包装技术有限公司
申请人地址 :
上海市松江区新桥镇新格路625号2幢
代理机构 :
北京维正专利代理有限公司
代理人 :
谢绪宁
优先权 :
CN201921942907.4
主分类号 :
G01G21/28
IPC分类号 :
G01G21/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01G
称量
G01G21/00
称量仪器的零部件
G01G21/28
框架;外罩
法律状态
2020-06-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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