一种便于清理的分析天平
授权
摘要
本实用新型公开了一种便于清理的分析天平，属于实验室称量设备技术领域，其技术方案要点是包括放置在天平台上的底座，底座上设置有称量盘，底座上设置有防风罩，称量盘位于防风罩内，底座上可拆卸连接有废料盘，废料盘上开设有供称量盘穿过的通孔，通孔的内壁与称量盘的外周面之间留有使称量盘准确称量的称量间隙，底座上连接有遮盖称量间隙的遮挡组件，达到减少清理分析天平的时间，提高工作效率的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种便于清理的分析天平
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921507437.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-10
授权号 ：
CN210242964U
授权日 ：
2020-04-03
发明人 ：
赵凤新陈海波
申请人 ：
天津嘉林科医有限公司
申请人地址 ：
天津市武清区新技术产业园区武清开发区旺源道8号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921507437.9
主分类号 ：
G01G21/28
IPC分类号 ：
G01G21/28 G01G21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01G
称量
G01G21/00
称量仪器的零部件
G01G21/28
框架；外罩
法律状态
2020-04-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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