一种便于稳定放置的电子分析天平的天平底座

授权

摘要

本实用新型公开了一种便于稳定放置的电子分析天平的天平底座，包括底座和天平本体，底座的上端面设置有天平本体，底座包括底板、调节钉、固定板和升降套，底板的上端面上开设有放置孔，且底板的上端面两侧均对称设置两个有调节螺套，调节螺套的底端贯穿底板的底面，调节螺套与底板之间焊接固定，调节螺钉安装在调节螺套中，且调节螺钉的底端粘接有吸盘，底板的一侧端面上水平焊接有固定板，且固定板的上端面竖直固定有升降套。本实用新型能够保持电子分析天平本体称量面的水平，提高测量精度，同时提高天平本体的稳定性，便于根据测量物品的尺寸进行改变的防风罩，进而提高使用灵活性。

基本信息

专利标题：

一种便于稳定放置的电子分析天平的天平底座

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921790173.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-23

授权号：

CN210441975U

授权日：

2020-05-01

发明人：

柳添辉张福生黄杨邓斌煌沈飞

申请人：

厦门科仪检测技术有限公司

申请人地址：

福建省厦门市火炬高新区（翔安）产业区翔星路88号台湾科技企业育成中心W803D室

代理机构：

厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

杨唯

优先权：

CN201921790173.2

主分类号：

G01G21/02

IPC分类号：

G01G21/02 G01G21/28