一种实验室用的精密分析天平
授权
摘要
本实用新型公开了一种实验室用的精密分析天平,包括天平主体,所述天平主体的上端外表面靠近前方的位置设置有斜板,所述斜板的上端外表面设置有开关和显示屏,所述显示屏位于开关的上方,所述天平主体的上端外表面固定安装有秤盘和转轴,所述转轴位于秤盘的后方,所述转轴的前端外表面活动安装有防尘罩,所述天平主体的前端外表面中间的位置固定安装有水平仪,所述天平主体的下端外表面开设有四个滑槽,四个所述滑槽的内部均滑动连接有滑块,四个所述滑块的下端外表面均固定安装有第一支撑杆。本实用新型,方便了工作人员将天平主体调节成水平状态,提高了秤盘称重物体的精确度,避免了灰尘对秤盘造成污染。
基本信息
专利标题 :
一种实验室用的精密分析天平
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920750648.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-05-23
授权号 :
CN209858047U
授权日 :
2019-12-27
发明人 :
李耀龙杨昊
申请人 :
广东顶峰检测技术服务有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市大朗镇黎贝岭村贝丽路18号安卓大厦12楼B区
代理机构 :
广州高炬知识产权代理有限公司
代理人 :
董博
优先权 :
CN201920750648.9
主分类号 :
G01G19/62
IPC分类号 :
G01G19/62 G01G21/08 G01G21/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01G
称量
G01G19/00
不包含在G01G11/00至G01G17/00组中的适用于特定目的的称量仪器或方法
G01G19/62
置于上方或下方的称量器械
法律状态
2019-12-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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