一种封装稳定的漏电流测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种封装稳定的漏电流测试装置，包括外壳、内器体、封装盖、连杆、调节孔、连接块、滑块、线轨、调节槽、卡块、紧固螺钉、齿块、伸缩槽、齿条和复位弹簧，所述外壳内设有内器体，且内器体两侧对称固定有滑块，所述外壳内壁对称固定有线轨，且滑块与线轨滑动卡接，所述外壳端口位置转动安装有封装盖，所述封装盖两侧对称开设有调节槽，且调节槽内滑动卡接有卡块，所述卡块表面转动连接有连杆，且连杆端部与内器体转动连接，所述外壳顶部开设有调节孔，此漏电流测试装置的核心部件由外壳和封装盖封装，不仅实现密封保护，而且便于携带，同时装置通过内器体的伸缩定位安装，方便伸缩操作使用，提高实用性。
基本信息
专利标题 ：
一种封装稳定的漏电流测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921847124.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-30
授权号 ：
CN210954298U
授权日 ：
2020-07-07
发明人 ：
张文志
申请人 ：
深圳市腾标检测有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区龙岗街道爱南路227号东进1号文化创意园A栋205-206
代理机构 ：
深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李捷
优先权 ：
CN201921847124.8
主分类号 ：
G01R31/52
IPC分类号 ：
G01R31/52 G01R19/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/52
测试短路、泄漏电流或接地故障
法律状态
2020-07-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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