一种BMS产品老化测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种BMS产品老化测试装置，包括多个用于连接BMS产品测试点的测试探针、用于固定测试探针的固定板、设置在测试探针上端且用于承载BMS产品的载板、用于推动载板向下移动实现BMS产品与测试探针连接的下压机构，所述载板包括设置用于连接载板和固定板实现下压并提供一个向上恢复力的弹性组件，以及开设在载板上且用于穿过测试探针的通孔，该BMS产品老化测试装置采用测试探针进行对接，使用寿命长，维修次数少，成本低；测试模块独立设计，便于移动和问题诊断。
基本信息
专利标题 ：
一种BMS产品老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921848345.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-30
授权号 ：
CN211741430U
授权日 ：
2020-10-23
发明人 ：
吴文波芮郝俊翟培史兴领
申请人 ：
安徽贵博新能科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区望江西路800号动漫基地C4#楼408
代理机构 ：
合肥天明专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
娄岳
优先权 ：
CN201921848345.7
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/073
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-10-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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