一种电子产品老化测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了电子产品测试技术领域的一种电子产品老化测试装置，包括测试箱体，所述测试箱体底部四角均设置有移动轮，所述测试箱体底部内壁中心通过转动连接件连接有工作台，所述齿轮底部设置有转杆，根据电子产品的高度观察刻度线上下拉动活动套管，使电子产品的外表面充分与水或热空气接触，还可以根据测试需要旋转手柄对通气孔喷向电子产品的水量或热空气的量进行调节，手柄带动调节杆、支撑杆和限流孔板旋转，限流孔板旋转使通气孔与限流孔板通孔的接触的相对面积发生变化，改变了通过通气孔喷向电子产品表面的水量或热空气的量，从而改变测试箱体内湿度和温度上升的速度，达到模拟不同湿度和温度的目的。
基本信息
专利标题 ：
一种电子产品老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920539881.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-19
授权号 ：
CN210119530U
授权日 ：
2020-02-28
发明人 ：
王震宋静
申请人 ：
扬州四化年代科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省扬州市高邮经济开发区洞庭湖路科技创业中心B5幢2层
代理机构 ：
北京科家知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
艾秀丽
优先权 ：
CN201920539881.2
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01N17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-02-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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