一种电子产品老化测试装置
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及到一种测试装置技术领域,具体涉及到一种电子产品老化测试装置。包括箱体,箱体底板上固定有矩形围框,围框上方设置有垫板,围框内的箱体底板上镶嵌设置有风扇,上板的左右两侧均开设有纵向的长槽,上板下方设置有测试元件,测试元件上端固定有两个竖直的连杆,连杆与长槽对应,连杆贯穿其一侧的长槽并与其滑动配合,挡杆贯穿上板上方连杆上的槽孔,往复丝杠上螺纹连接有活动块,活动块下端前后两侧均固定有夹板,夹板滑动设置在凹槽内,挡杆位于两夹板之间,箱体上端固定有显示屏,显示屏与测试元件电性连接。本实用新型,测试过程能够对被测试的电子产品进行有效稳定,同时测试过程中电子产品产生的热量能够快速散去。
基本信息
专利标题 :
一种电子产品老化测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921983942.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-18
授权号 :
CN210953752U
授权日 :
2020-07-07
发明人 :
董亚勇郭彦良
申请人 :
刘宁
申请人地址 :
天津市武清区杨村镇京津公路五一阳光锦园26号楼2门503
代理机构 :
濮阳华凯知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王传明
优先权 :
CN201921983942.0
主分类号 :
G01N17/00
IPC分类号 :
G01N17/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N17/00
测试材料的耐气候,耐腐蚀,或耐光照性能
法律状态
2021-10-29 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 17/00
申请日 : 20191118
授权公告日 : 20200707
终止日期 : 20201118
申请日 : 20191118
授权公告日 : 20200707
终止日期 : 20201118
2020-07-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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