一种电子产品再制造老化测试箱
授权
摘要

本实用新型公开了一种电子产品再制造老化测试箱,具体涉及老化测试技术领域,包括箱体,所述箱体内壁的底端固定安装有安装板,所述安装板顶端的一侧滑动安装有两个第一安装座,所述安装板顶端的另一侧滑动安装有第二安装座,两个所述第一安装座和第二安装座内壁的底端均固定安装有固定底座,所述固定底座的内部开设有空腔。本实用新型通过设置的第一安装座、第二安装座等,能够实现对不同尺寸的电子产品进行安装,同时,能够对待检测的电子产品进行固定,防止检测过程中电子产品与其他物体碰撞影响检测结果,通过设置的散热扇、限位拉杆、限位杆等,能够防止部物体损坏散热扇,同时方便防护板的装取。

基本信息
专利标题 :
一种电子产品再制造老化测试箱
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921153023.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-22
授权号 :
CN210465571U
授权日 :
2020-05-05
发明人 :
唐雄华宋薇薇
申请人 :
赫顶(天津)工业技术有限公司
申请人地址 :
天津市西青区张家窝镇天安数码城二区1-5-506-1
代理机构 :
天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
高正方
优先权 :
CN201921153023.0
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  H05K7/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-05-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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