一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱
授权
摘要

本实用新型公开了一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱,具体涉及电子产品测试领域,包括测试箱体和阻隔板,所述承载盘的内部均设置有多个阻隔板,每个所述阻隔板的一端中间位置均设置有滚珠,所述滚珠滚动设置于滑槽中,所述滑槽设置于承载盘的内侧壁上,所述阻隔板的另一端中间位置固定设置有连接件,所述连接件的一端固定设置在转轴的一侧,所述转轴的两端均转动设置于固定块上,所述承载盘和阻隔板上均间隔均匀的设置有若干个通风孔。本实用新型能够调节阻隔板的位置,从而能够改变相邻两个阻隔板之间形成储物槽的大小,便于同种类型不同大小的电子产品在测试箱中进行检测,提高了装置的工作效率和功能性。

基本信息
专利标题 :
一种受热均匀的电子产品再制造老化测试箱
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921185233.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-26
授权号 :
CN210465575U
授权日 :
2020-05-05
发明人 :
唐雄华宋薇薇
申请人 :
赫顶(天津)工业技术有限公司
申请人地址 :
天津市西青区张家窝镇天安数码城二区1-5-506-1
代理机构 :
天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
高正方
优先权 :
CN201921185233.8
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  H05K7/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-05-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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