一种电子产品再制造老化测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子产品再制造老化测试装置,具体涉及电子产品老化测试技术领域,包括检测箱,所述检测箱内腔的两侧均开设有两个滑槽,所述滑槽内滑动连接有滑块,且位于底部两个滑块的对应位置均固定连接有同一个第一载板,所述第一载板的顶部的两侧均开设有第一凹槽,所述第一凹槽内腔的两侧均固定连接有同一个滑杆,所述滑杆的外侧壁滑动连接有滑套,所述滑套外侧壁嵌设有固定块。本实用新型通过设置支撑架、第一载板和第二载板,有效方便了工作人员取出测试完毕的电子设备,同时第一弹簧和第二弹簧能够对不同大小的电子设备进行挤压固定,满足了测试适配性需要的同时保证了对电子设备的安全固定。
基本信息
专利标题 :
一种电子产品再制造老化测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921153029.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-22
授权号 :
CN211061612U
授权日 :
2020-07-21
发明人 :
唐雄华宋薇薇
申请人 :
赫顶(天津)工业技术有限公司
申请人地址 :
天津市西青区张家窝镇天安数码城二区1-5-506-1
代理机构 :
天津市尚仪知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
高正方
优先权 :
CN201921153029.8
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-07-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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