一种电子产品开发的老化测试方法及其测试平台
公开
摘要
一种电子产品开发的老化测试平台，包括有主体、置物腔和置物架，主体中部开口设置有置物腔，置物腔中部嵌合设置有置物架，置物腔内壁两侧开口设置有滑槽，滑槽一侧开口设置有限定槽，置物架中部开口设置有若干错位槽，置物架一侧嵌合设置有限定盘，置物架另一侧固定连接有固定圆盘。通过该装置设置的错位槽能够让两个置物架进行完全的组合靠拢，使得其两个置物架能够形成一个整体，然后在进行组合的时候置物架也会对滑槽进行限定连接，来让置物架能够任意的组合成一体在置物腔的任何高度位置，来让置物腔的内部空间大小能够进行调整方便放入不同体积大小的电子产品。
基本信息
专利标题 ：
一种电子产品开发的老化测试方法及其测试平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114594330A
申请号 ：
CN202210237156.6
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄佩仪
申请人 ：
黄佩仪
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道科技园社区科苑路8号讯美科技广场
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210237156.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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