一种芯片筛选装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种芯片筛选装置；在对特定的待测芯片的各引脚的引脚保护电路进行VDD测试时，通过微控制器控制第一多路开关使与待测芯片的VDD引脚相对应的一个输出/输入端与公共输入/输出端进行连通，使待测芯片的VDD端接地；之后通过微控制器控制第二多路开关的多个输出/输入端轮流与公共输入/输出端进行连通，使通过恒压电路和恒流电路输出的2.5V300uA的直流电通过不同的待测芯片的引脚输入至待测芯片，而后通过电压比较电路进行比较，判断待测芯片的引脚是否正常；并且还可以通过调节可调电阻调节LCD显示屏的亮度，使用LCD显示屏进行引脚故障的显示智能化程度更高，同时显示的信息量大。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片筛选装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921880022.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-04
授权号 ：
CN211293155U
授权日 ：
2020-08-18
发明人 ：
杨斐
申请人 ：
深圳市联合仪器设备有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道新围社区新围村石岭工业区3-4栋4-501、502、503
代理机构 ：
深圳市科冠知识产权代理有限公司
代理人 ：
孔丽霞
优先权 ：
CN201921880022.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-08-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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