一种不良芯片筛选方法
授权
摘要
本发明适用于芯片测试技术领域，提供了一种不良芯片筛选方法，所述方法是根据预设的热力学筛选方法对待筛选的芯片进行热力学性能筛选，得到符合热力学要求的芯片，再根据预设的电学筛选方法对所述符合热力学要求的芯片进行电学性能筛选，得到符合电学性能要求的芯片，通过同时对待筛选芯片进行热力学测试和电学参数测试，能够有效保证芯片出厂的合格率；最后获取所述符合电学性能要求的芯片的电学参数测试数据，并基于正态分布原理筛选出电学参数测试数据符合3σ原则的芯片，能够筛选出具有高度一致的电学参数的良品，剔除存在失效风险的良品，从而进一步提高芯片出厂的合格率。
基本信息
专利标题 ：
一种不良芯片筛选方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112871739A
申请号 ：
CN202110090092.7
公开（公告）日 ：
2021-06-01
申请日 ：
2021-01-22
授权号 ：
CN112871739B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
肖南海杨斌洪海霞贾美景刘洪葛志阳
申请人 ：
上海音特电子有限公司
申请人地址 ：
上海市金山区枫泾镇曹黎路38弄25号1528室
代理机构 ：
上海创开专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
汪发成
优先权 ：
CN202110090092.7
主分类号 ：
B07C5/34
IPC分类号 ：
B07C5/34 B07C5/344 B07C5/36 B07C5/02
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
B07C5/34
根据其他特殊性质来分选
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2021-06-18 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : B07C 5/34
申请日 : 20210122
申请日 : 20210122
2021-06-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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