一种超辐射发光二极管芯片的筛选箱和筛选装置
授权
摘要
本申请公开了一种超辐射发光二极管芯片的筛选箱和筛选装置，以实现方便、快捷的对SLD芯片的性能进行测试，从而筛选出性能符合要求的SLD芯片。所述筛选箱，包括箱体和上盖，所述上盖上设置有充氮气口；所述箱体内设置一台体，所述台体上设置有温度调节部、光电探测器和温度传感器；所述箱体的侧壁上设置有用于与外部电路连接的接线端子；所述温度调节部、所述光电探测器和所述温度传感器与所述接线端子电性连接。
基本信息
专利标题 ：
一种超辐射发光二极管芯片的筛选箱和筛选装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921372496.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-22
授权号 ：
CN210803655U
授权日 ：
2020-06-19
发明人 ：
唐浩张佳全徐帅王文灿李江赵鹏胡冬梅
申请人 ：
中航捷锐（北京）光电技术有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区北四环中路238号柏彦大厦802-803室
代理机构 ：
北京君至同辉知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周秀珍
优先权 ：
CN201921372496.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-06-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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