一种用于X荧光光谱分析压片制样的聚烯烃样品杯
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于X荧光光谱分析压片制样的聚烯烃样品杯，涉及熔样/溶液制备装置技术领域。该用于X荧光光谱分析压片制样的聚烯烃样品杯，包括杯体和底座，杯体主要为一个直径为39.5‑40.5mm且高度可根据实际需求变化的圆柱体，杯体通过将聚烯烃或硼酸等原料放入制杯模具中。该用于X荧光光谱分析压片制样的聚烯烃样品杯，聚乙烯(聚丙烯或硼酸)样品杯和传统泡沫塑料材料样品相比优点在于普通泡塑杯具有弹性，而本样品杯由于采用压制法所以为刚性，加入样品后，本样品杯在压制过程中二次成型，样品和样品杯边缘处可以很好地结合，而传统的泡塑杯具有弹性，与样品交界处无法实现很好地结合，存在掉粉污染甚至脱落的风险。
基本信息
专利标题 ：
一种用于X荧光光谱分析压片制样的聚烯烃样品杯
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921897034.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-06
授权号 ：
CN211086154U
授权日 ：
2020-07-24
发明人 ：
刘文华
申请人 ：
瑞绅葆分析技术（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市宝山区金石路1688号C-821
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921897034.X
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 G01N23/2202
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2020-07-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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