一种适合X荧光光谱仪样品分析的微型制样平台
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摘要
本实用新型公开了一种适合X荧光光谱仪样品分析的微型制样平台，包括装置本体和轴杆，所述装置本体底部安装有底部安装箱，且底部安装箱内部安装有收尘滤筒和吸风机，同时底部安装箱上端与固定板固定连接，并且固定板内部设置有限位块，限位块右端与调节座固定连接，吸风罩左上侧安装有吸尘软管，且吸风罩端部与调节块固定连接，固定板内部设置有安装槽，且安装槽内部分别安装有丝杆和导向杆。该适合X荧光光谱仪样品分析的微型制样平台，位于制样平台两侧的侧风板同时对制样平台的两侧进行吸尘工作，吸风罩对制样平台上方的粉尘进行清理吸附工作，手持吸风罩，来回摆动吸风罩，对吸风罩的工作角度进行调节，提高装置的吸尘效果。
基本信息
专利标题 ：
一种适合X荧光光谱仪样品分析的微型制样平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020921164.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-27
授权号 ：
CN212341057U
授权日 ：
2021-01-12
发明人 ：
赖秋祥罗联诗陈琰龙李涛林鸿汉巫贞祥廖彬玲罗小兵
申请人 ：
紫金铜业有限公司
申请人地址 ：
福建省龙岩市上杭县蛟洋镇坪埔村
代理机构 ：
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
汤东凤
优先权 ：
CN202020921164.9
主分类号 ：
G01N23/2202
IPC分类号 ：
G01N23/2202 G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2202
样品制备
法律状态
2021-01-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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