一种低本底多道γ能谱仪
授权
摘要

本实用新型公开了一种低本底多道γ能谱仪,包括主机、分析仪和探测器,所述主机和分析仪分别通过螺栓连接在框架上,所述框架中间位置通过螺栓连接有支撑板,所述支撑板上端插接有显示器,所述显示器通过视频线与主机视频接口连接,本实用新型在框架上增加支撑板的结构,用于配合安装主机、分析仪和显示器,框架侧边增加的固定块组件用于配合连接立柱,方便将探测器与主机和分析仪连接起来,构成完整的能谱仪部件,固定块外侧增加与立柱螺纹连接的套环,转动套环使得套环沿着立柱下降,由于挡块的作用,使得套环无法下降,从而带动立柱上升,改变安装有探测器的垫板的高度,适应不同身高的操作员使用。

基本信息
专利标题 :
一种低本底多道γ能谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921990274.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-18
授权号 :
CN211318262U
授权日 :
2020-08-21
发明人 :
杨春华刘红生秦波
申请人 :
武汉谱晰科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区珞南街珞喻路182号
代理机构 :
武汉红观专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张文俊
优先权 :
CN201921990274.4
主分类号 :
G01N23/20091
IPC分类号 :
G01N23/20091  G01N23/2251  G01N23/04  G01D11/30  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20091
通过测量衍射辐射的能量色散谱EDS
法律状态
2020-08-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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