一种用于表面缺陷的测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于表面缺陷的测量装置，包括卡座、抓手、第一定位柱、固定帽、水平柱、第二定位柱、紧固螺丝、螺纹柱、测量尺、卡槽、导柱和导轨。本实用新型的有益效果是：水平柱通过固定帽固定在第一定位柱上固定，通过固定帽的卡紧，方便对水平柱的更换与安装，测量尺通过导柱和导轨卡接在卡槽内，利用导柱和导轨的结合，方便测量尺进行左右移动，测量尺通过紧固螺丝旋拧呈下压式卡紧固定，将测量尺卡紧，卡座的左侧为竖直平面，右侧呈45度斜角，防止无法对一些有缺陷或倾斜的角度的表面无法进行测量。
基本信息
专利标题 ：
一种用于表面缺陷的测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922015144.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-20
授权号 ：
CN210664180U
授权日 ：
2020-06-02
发明人 ：
余日华
申请人 ：
深圳市华太检测有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华新区大浪街道华荣路376号鸿富工业园E栋
代理机构 ：
北京国坤专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵红霞
优先权 ：
CN201922015144.5
主分类号 ：
G01B3/04
IPC分类号 ：
G01B3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/00
各组中所列的以使用机械测量方法为其特征的量具
G01B3/02
用于直接读数的带刻度或标记的尺
G01B3/04
刚性的
法律状态
2020-06-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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