一种多路光信号检测的激光加工质量监测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种多路光信号检测的激光加工质量监测系统，包括缩束模块、光路转折系统、光路分光系统和光电检测模块，所述缩束模块用于将平行光束收缩为检测所需的小直径光束；所述光路转折系统将所述小直径光束导向到所述光路分光系统；所述光路分光系统将制定波长范围的光进行反射，分配到不同的光路；所述光电检测系统至少包括第一光信号接收单元、第二光信号接收单元、放大电路、信号调理单元和AD采样单元。与现有技术相比，本实用新型能对激光加工待检测辐射光信号进行缩束处理，可以通过对主光路调节实现一次完成多路光信号的调节；可以提高现有检测装置的适用范围，提高产品可用范围；可以将信号做整体屏蔽处理，降低信号失真水平。
基本信息
专利标题 ：
一种多路光信号检测的激光加工质量监测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922076325.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-27
授权号 ：
CN211426302U
授权日 ：
2020-09-04
发明人 ：
李智华谢品黎德源白天翔李正文游德勇
申请人 ：
广州德擎光学科技有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市海珠区沥滘振兴大街10号自编15号楼C201单元
代理机构 ：
广州蓝晟专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
欧阳凯
优先权 ：
CN201922076325.9
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-09-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
