一种光学电荷耦合器件绝对光谱响应标定系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种光学电荷耦合器件绝对光谱响应标定系统，属于光学电荷耦合器件标定技术领域，所述标定系统沿着光线的传输路径依次包括标准积分球光源、带通滤片转轮和待标定CCD，其中，带通滤片转轮包括多个滤片，本实用新型利用多个滤片解谱的方法，有效地降低了待标定CCD光谱响应标定中对光源系统单色化的需求，利用多个滤片组合便可实现光谱仪与积分球组合的功能，简化了标定系统的结构和成本，标定方法简便高效，性能稳定可靠，能够较大程度缩短标定时间，提升实验效率。
基本信息
专利标题 ：
一种光学电荷耦合器件绝对光谱响应标定系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922085262.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-27
授权号 ：
CN210638881U
授权日 ：
2020-05-29
发明人 ：
张琛张惠鸽刘浩杨为明章欢王哲斌宋天明王鹏杨冬
申请人 ：
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址 ：
四川省绵阳市绵山路64号919信箱988分箱
代理机构 ：
北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张明利
优先权 ：
CN201922085262.3
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01J3/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-05-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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