一种稳定性强的翠熔体晶体粗细度检测用粒径分析仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种稳定性强的翠熔体晶体粗细度检测用粒径分析仪，涉及粒径分析技术领域，包括仪器本体，仪器本体上方设置有进料口，仪器本体的前表面设置有操作面板，操作面板上设置有控制面板，控制面板的上方设置有显示屏，控制面板的右侧设置有指示灯，仪器本体的下方还设置有两个防滑机构，防滑机构包括承重板，承重板前后两端的上表面均向上延伸有连接板，连接板的顶端与承重板的端部之间形成一加强板，两个连接板与仪器本体的前后两端固定，承重板的下表面还设置有若干个支撑板，支撑板的底部设置有防滑块，本实用新型中仪器本体的稳定性大大增加，不会因受到外界的碰撞而倾倒。
基本信息
专利标题 ：
一种稳定性强的翠熔体晶体粗细度检测用粒径分析仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922107477.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-29
授权号 ：
CN211235401U
授权日 ：
2020-08-11
发明人 ：
许超周明
申请人 ：
镇江星运科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省镇江市京口区东吴路388号
代理机构 ：
南京创略知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘文艳
优先权 ：
CN201922107477.0
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2020-08-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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