一种测试工艺制程治具，包括治具主体，治具主体包括第一凹槽、第二凹槽和第一通光孔，第一凹槽与第二凹槽相连，第一通光孔设置在第一凹槽内，测试工艺制程治具还包括挡片、压块和滑块，挡片设置在第一凹槽的底部，压块固定在第一凹槽内，压块位于挡片上方，滑块可活动地设置在挡片与压块之间，压块上设有用于设置产品的容置缺口，容置缺口与第一通光孔相对，滑块的一部分位于容置缺口内。本实用新型的测试工艺制程治具具有定位好、操作简单方便、稳定性好、同时成本低以及通用性好的特点。