一种二次离子质谱仪测试用样品架
授权
摘要
本实用新型公开了一种二次离子质谱仪测试用样品架。样品架包括样品架基座、前挡片、背压块、固定螺丝和弹簧；前挡片开有十个大小相等的正方形方孔，分布均匀对称，前挡片焊接在样品架基座上；背压块通过固定螺丝固定在样品架基座上，弹簧的上端置于背压块底部，下端压住装载后的样品，使样品与前挡片充分接触。本设计既能满足均匀装载多个样品，样品与样品架接触良好并导电均匀，又便于操作、不易损坏，从而解决了现有样品架存在的各种弊端。
基本信息
专利标题 ：
一种二次离子质谱仪测试用样品架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922198476.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-10
授权号 ：
CN211402241U
授权日 ：
2020-09-01
发明人 ：
马农农何友琴陈潇张鑫王东雪杨东海孙雪莲
申请人 ：
中国电子科技集团公司第四十六研究所
申请人地址 ：
天津市河西区洞庭路26号
代理机构 ：
天津中环专利商标代理有限公司
代理人 ：
王凤英
优先权 ：
CN201922198476.1
主分类号 ：
G01N27/64
IPC分类号 ：
G01N27/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/30
•••电极，例如测试电极；半电池
G01N27/60
通过测试静电变量
G01N27/64
利用波或粒子辐射电离气体，例如在电离室内
法律状态
2020-09-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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